PEEKへの材料変更による不良品の抑制
お客様からご相談いただいた内容
こちらは電子部品用のプレートで、元々、MCナイロンで加工を行っていましたが、MCナイロンは吸水性が高いため、厚み公差（±0.02）が安定せず、湿度や温度の変化によって寸法公差から外れてしまうという問題が多発しておりました。
その結果、検査工程でのNG品が増加し、歩留まりの低下とコスト増につながっていました。
提案内容・解決策
当社から材料をMCナイロンからPEEKに変更することを提案しました。
PEEKはMCナイロンに比べて吸水性が極めて低いため、環境の変化による寸法変動が非常に小さいという特性があります。この特性を活かすことで、不安定だった厚み寸法を安定させ、厳格な公差要件を満たすことが可能になるとご説明し、公差範囲内に収まるように製作しました。
その結果、不良品の発生を大幅に削減し、歩留まりの向上を実現しました。
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